场发射透射电子显微镜

FieldEmission Transmission Electron Microscope

型号：JEM-F200

制造商：JEOL

放置地点：3-114

技术指标：

电子枪：高亮度热场发射电子枪

加速电压范围：20-200kV

透射(TEM)模式

点分辨率：≤0.23nm@200KV

线分辨率≤0.10nm@200KV、0.14nm@80KV

TEM模式下放大倍数：20-2,000,000×

扫描透射(STEM)模式

BF/HAADF分辨率：≤0.16nm（200kV），≤0.31nm（80kV）

STEM模式放大倍率：200-150,000,000×

X射线能谱

能量分辨率：≤133eV(Mn-Kα峰)

固体角≥1srad

发射角：≥21°

元素分析范围：B5-U92

主要功能：

主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析、原子级的元素成分分析。可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察，结合高灵敏度的EDS能谱仪可以实现快速的成分分析。

管理员：蒋金泓

电话：0571-88120227

邮箱：jiangjinhong@ucas.ac.cn

办公地点：3-411