仪器生产商： JEOL
资产编号： 202224000213
资产负责人： ----
购置日期： 2021-01-01
仪器价格： 900.00 万元
仪器产地： 日本
仪器供应商： ----
购买经办人： ----
主要配件： STEM、EDS能谱、冷冻样品杆
主要参数： ----
仪器介绍：
场发射透射电子显微镜
FieldEmission Transmission Electron Microscope
型号：JEM-F200
制造商：JEOL
放置地点：3-114
技术指标：
电子枪：高亮度热场发射电子枪
加速电压范围：20-200kV
透射(TEM)模式
点分辨率：≤0.23nm@200KV
线分辨率≤0.10nm@200KV、0.14nm@80KV
TEM模式下放大倍数：20-2,000,000×
扫描透射(STEM)模式
BF/HAADF分辨率：≤0.16nm（200kV），≤0.31nm（80kV）
STEM模式放大倍率：200-150,000,000×
X射线能谱
能量分辨率：≤133eV(Mn-Kα峰)
固体角≥1srad
发射角：≥21°
元素分析范围：B5-U92
主要功能：
主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构分析、原子级的元素成分分析。可以在极短时间内得到高分辨率的图像观察，结合高灵敏度的EDS能谱仪可以实现快速的成分分析。
管理员：蒋金泓
电话：0571-88120227
邮箱：jiangjinhong@ucas.ac.cn
办公地点：3-411